利用激光粒度測試納米材料的粒度
更新時間：2023-03-30
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納米材料是指三維空間尺寸中至少有一維處于納米數量級（1~100 nm），或由納米結構單元組成的具有特殊性質的材料，納米材料已成為材料研發以及產業化基本的構成部分，其中納米材料的粒度則是其重要的表征參數之一。
Nanolink S901系列納米粒度分析儀采用動態光散射(DLS)技術進行納米粒度測量，被廣泛應用于有機或無機納米顆粒、乳液、高分子聚合物、膠束、病毒抗體及蛋白質等樣品的顆粒表征及樣品體系穩定性及顆粒團聚傾向性的檢測和分析。
經典90°動態光散射技術測量粒徑，測量范圍覆蓋0.3nm-15μm。
加持自動恒溫技術的功率可達50mW, 波長638nm的固體激光光源，儀器即開即用。
激光光源與照明光及參考光的一體化及光纖分束技術。
信號光與參考光的光纖合束及干涉技術。
集成光纖技術的高靈敏度和極低暗電流(20cps)的光子檢測器。
常規溫度控制范圍可達0°C ~ 90°C, 可選120°C，精度±0.1°C。
新一代高速數字相關器，動態范圍大于10¹¹。
冷凝控制-干燥氣體吹掃技術。
測量原理：動態光散射（DLS）、靜態光散射（SLS）。
光源：集成恒溫系統及光纖耦合的功率50mW，波長638nm固體激光器。
相關器：高速數字相關器，自適應通道配置。
