動態光散射技術在納米顆粒表征方面的應用

納米粒子是一種越來越重要的材料，廣泛應用于催化、涂層、顏料、化妝品、電子、食品和醫療行業。 納米粒子的物理和化學性質與粒子形態（包括粒度）關系密切。 此類材料的合成量可能非常小，并且生產難度很高。因此，通常需要使用幾毫克的材料進行粒度測量，而且需要在測量之后回收樣品，以用于后續檢測。

納米粒子的*性質源于其高比表面積，而這又與粒度極小直接相關。 通過進一步控制粒度和形態，可進一步優化材料的性質，包括反應性、表面化學、光學性質、磁性、導電性和電容率。可使用各種技術測量納米粒子的粒度。激光衍射法在處理較廣的動態范圍方面具有*性，允許使用相同設備在同一次測量中同時分析納米粒子和粒徑大得多的其他粒子。 這對于需要較大靈活性的實驗室而言十分有利。


Nanolink S900是基于多年的科研成果開發的新一代納米粒度分析系統，采用經典90°動態光散射技術，粒徑范圍：0.6nm-10μm；配備新一代高速數字相關器，小采樣時間25ns，動態范圍大于10¹¹；擁有集成光纖技術的PMT檢測單元（APD可選）；配置532nm 50mW大功率固體激光器，能量輸出自動調節；干燥氣體吹掃技術實現冷凝控制，溫控范圍可滿足0℃-90℃，精度±0.1℃。被廣泛應用于有機及無機顆粒、乳液、高分子聚合物、表面活性劑、膠素、病毒抗體、蛋白質等樣品的顆粒表征。